最近看了一位同行测零件,又看到了一个新的问题,提出来让大家讨论一下. 这位同行的测量过程是这样的: 由于被测零件是一个复杂箱体,上下两面平行,四周基本上是斜面,有两个面都有待测的元素,这位同行便首先由斜面开始测,建立坐标系,然后评价这个斜面上的元素的形位公差,之后,再换到另一个斜面,重新建立了一个坐标系(这个是坐标系是新建还是迭代或是最佳拟和我倒是不太清楚,只看到测量过程,未见到源程序),然后再把要测的元素测一遍,并尺寸评价.最后再按图纸基准新建坐标系,然后在此基础上测定要测的基准及待测元素,并对