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请教:扫描曲面时是否要“测头半径补偿”?
请教:扫描曲面时是否要“测头半径补偿”?
2011-01-17 19:55
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最近测量一个光学零件,精度比较高,导入CAD模型,我使用的是栅格扫描,框选,选择“查找理论值”,然后输入测量点数,隔4mm左右测量一个点,扫描完后后,导出“点云”,通过第三方软件来评价其面形,评价结果和波面干涉仪测量的结果相差很大,相差20多微米,这个结果肯定有问题。后来为了验证,我们把零件拿到蔡司的机器上测量,它所得的结果和干涉仪测量的结果吻合。 在不同的机器上测量,不同的就是,在PCDMIS CAD++上测量用了“测头半径补偿”,而在蔡司的机器上是没有进行补偿测量的。 请问:为什么会出现这样的结果?测量曲面时,什么时候用“测头半径补偿”?
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谢谢孙老师。我测量镜子时,用的是栅格扫描,用了“测头半径补偿”,有CAD模型,可测量出来的数据点,算出来和波面干涉仪测量的结果相差比较大。不知道为什么? 镜子的面形精度在1微米,三坐标测量出来是5微米的轮廓度,会不会因为镜面精度很高,超出了测量机的精度范围,导致测量机测不准?
2011-01-26 14:10
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在使用数模评价轮廓度时,有一个非常关键的步骤,就是要把数模和零件的坐标系拟合在一起。如果在拟合坐标系过程中有偏差,这个偏差会加入到结果中。 为减少误差的加入,可以在测量后,把测量的元素都选中,进行一次“最佳拟合”。 如果只是要测量镜子的平面度,没必要使用数模扫描,直接扫描、构造最佳拟合、重新补偿的面,评价平面度就可以了。
2011-02-17 12:04
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