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键槽对称度用三坐标是否能够测量准确?

2011-03-22 21:00 505 0 42

键槽对称度用三坐标是否能够测量准确?

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三坐标测量的结果是否经的起三坐标的多次复测。三坐标测量的重复性和一致性如何？三坐标测量的结果同常规方法及检具测量的结果比较如何？

2011-05-13 23:33

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尤其是触发式测头测量外圆和扫描式测头测量外圆出入较大。这就会引起客户和供应商之间的争议。

2011-05-13 23:36

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测量键槽对称度的时候，圆度是否ok? 键槽两侧面平行度如何？键槽两侧面表面粗糙度如何？

2011-05-13 23:40

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你好！你所提的“键槽两平侧面的中点”怎么求？如何确保其准确性，即相对唯一性？我考虑此问题的前提是键槽两侧并不完全平行，实际上完全平行也是不可能的。我有一个不太成熟的想法：与其这么求，不如直接求键槽两侧面的中分面，并与键槽两端作其垂面，让轴线分别穿刺两垂面，把穿刺点到中分面的远点距离乘2作为键槽对称度。不知你以为如何？

2011-05-15 11:12

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呵呵，“键槽两平侧面的中点”无非是，将两个面构造一中点，测量软件有这个功能，其实这个中点就是两侧面质心点的的中点。另外，你说的想法，我认为不妥。有如下两点：首先你这个方法等同于以键槽的中分面为基准，所评价的基准就反了。任何形位公差，都不能随便反平基准的。其次：对称度的被测要素是要计算被测面上每一对的测量点之间的偏差，然后取其最大值做为对称度的评价结果，而不是以中平面这个导出要素进行计算的。

2011-05-15 21:59

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再深入讨论一下：我觉得你的方案相当于以通过基准轴线且与键槽两平侧面的中点相交的平面做第二基准，这样的话那个中点不就成了对称度测算的对称中心吗？这样测算出来的对称度还是原本人们想要的对称度吗？我个人因为有这样的顾虑，才提出了前面的反求设想。

2011-05-16 08:08

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[quote] 原帖由 [b]daoshengyi[/b] 于 2011-5-13 17:47:00 发表您好！拜读了您的回帖，觉得您提的三点都很对、分析很到位。我想问您，对于其中的“2。被测要素与基准的定位问题”，您所认为最佳的方案是什么。假设就在一个圆柱上开一段键槽，别的什么都没有，要用CMM测量其对称度。 [/quote] 你好对于王工的图样中，评定基准只有一个轴线，此时，槽在周向没有定位，此时在评定时就必须要先做这个定位。试想一下，这个在传统方法中会怎么做？那无非是转来转去，找一个“平衡点”，然后再测量，这实际上就是一个BESTFIT的过程那么在三坐标中怎么做呢？简单地说，就是拿实测面跟理论的做一个最佳拟合，就能完成这样一个定位过程，也同时确定了公差带的位置。总结一下： 1。先导出中心面，理论做法需要二面同组拟合后导出 2。将中心面与理论面最佳拟合，相当于重建坐标系至于传统测量，那未就得先看平行度，这也应该是设计要考虑的。如果没有这个最基本的保证，那么测量一定有问题此外，在周向定位方面，传统测量同样存在的问题，要解决这一问题，那就是规范，双方甚至三方的认可。

2011-05-16 10:04

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用槽的中心点，(这个中心包括长度、宽度二个方面)做周向基准，只是一个变通方法，前提同样是二个被测槽内侧面的平行，以及中心面的平面度(这一点很少有人会标)。通过这个案例，我们可以看到整个测量中，几何特征本身的状态、拟合、提取、导出等整个过程对测量精度的影响，也能够看到我们的GD&T知识对测量结果的影响。再有，能从理论角度，审视传统测量方法的相关问题

2011-05-16 10:09

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您好！中分面怎么求我知道，但您提的理论面怎么作，我就不太清楚了。请指教。如果图纸上只有评定基准只有一个轴线，那么槽在作周向定位时，那个理论面应该怎么定？就像yj407建议的那样，取键槽两侧面的中点，由它和基准轴线来组成该平面吗？

2011-05-16 11:06

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您好！中分面怎么求我知道，但您提的理论面怎么作，我就不太清楚了。请指教。如果图纸上只有评定基准只有一个轴线，那么槽在作周向定位时，那个理论面应该怎么定？就像yj407建议的那样，取键槽两侧面的中点，由它和基准轴线来组成该平面吗？这个理论面和中分面应该不是一个面吧。

2011-05-16 11:09

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