社区活动 技术论坛 关于重复调动已编程好的文件进行检测的几点问题,请高手指点
关于重复调动已编程好的文件进行检测的几点问题,请高手指点
2010-02-27 20:53 38 0 8
请求大侠们给予帮助:前提是调动已编程文件(建系方法为迭代法),重复检测批量产件的几点疑问 1、 调动已编程文件,重复检测批量产件(已检测过产件并做好了位度评价)例如: 检测同样的产件 3件 产件1编程检测并做位置度评价。 产件2检测时调动产件1的程序检测 ①是否会合理, ②能够做出准确评价, ③评价的结果与产件1是否有关联。 ④是否需重新对位置度做评价(重新评价和原文件刷新后的评价略有差异),是不是在报告窗口重新刷重就可直接生成报告。 ⑤如何过一段时间调动此文件检测有没有必要校测头 ⑥在什么情况下必须重新校验测头 ⑦测针被意外打弯,是否可以通过校验测头得到准确的补偿 ⑧更换新的测针后,对再次调动产件1时的程序进行检测需要做哪些工作,是否是重新校验测针就可以 我接触海时间不是很长,有多疑问,真的希望前辈能 指点
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我想补充下,在使用编程测量产品时一定要注意坐标基准的变化,可能微小的差异就会导致程序在执行中出现错误。我们这就曾经因为基准平面抬高了些,导致整个测量程序无法使用并且出现侧头撞坏事故。:-| :-| :-|
2010-03-03 13:51
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3楼的朋友说明得又简单又明了 我喜欢:D
2010-03-03 12:23
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我说的是前辈的指点,论谈中需要有这样的热心人
2010-03-01 20:27
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真的非常感谢先辈们的指点
2010-03-01 20:21
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王惠雅
首先程序是可用的,只要坐标建立的没问题,那么报告可以自动更新成当前检测的结论。 其次测针只要没被碰撞过,一般几天效验一次,当然是环境恒定的条件下,若不定最好是天天效验。测针更换后需效验才能使用。测针碰弯需校正后再效验方可,否怎效验测针时会有干涉无法使用。
2010-02-27 21:57
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1合理 2能 3无 4正常情况下否,不过有可能报告没有更新,需重新评价,在报告窗口刷新无效,好像与显卡设置有关 5常校没坏处 6侧头更换,松动,碰撞,等 7否 8如果换的短测针,小心与工件碰撞,(深度) 不足之处请指正
2010-02-27 21:50
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等高手回答了,我也跟着学习学习:D
2010-02-27 21:02
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请求大侠们给予帮助:前提是调动已编程文件(建系方法为迭代法),重复检测批量产件的几点疑问 1、 调动已编程文件,重复检测批量产件(已检测过产件并做好了位度评价)例如: 检测同样的产件 3件 产件1编程检测并做位置度评价。 产件2检测时调动产件1的程序检测 ①是否会合理, ②能够做出准确评价, ③评价的结果与产件1是否有关联。 ④是否需重新对位置度做评价(重新评价和原文件刷新后的评价略有差异),是不是在报告窗口重新刷重就可直接生成报告。 ⑤如何过一段时间调动此文件检测有没有必要校测头 ⑥在什么情况下必须重新校验测头 ⑦测针被意外打弯,是否可以通过校验测头得到准确的补偿 ⑧更换新的测针后,对再次调动产件1时的程序进行检测需要做哪些工作,是否是重新校验测针就可以 我接触海时间不是很长,有多疑问,真的希望前辈能 指点
2010-02-27 20:53
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