[b][size=11pt][font=Calibri]1[/font][/size][/b][b][font=宋体][size=11pt].前言[/size][/font][/b][b][size=11pt][/size][/b]
[font=宋体][size=11pt]短圆弧的测量在实际测量中有许多应用,如测量样板[/size][/font][font=宋体][size=11pt]、[/size][/font][font=宋体][size=11pt]异形零件等。常用的非完整圆弧半径测量方法包括圆弧样板法[/size][/font][font=宋体][size=11pt]、[/size][/font][font=宋体][size=11pt]卡尺法[/size][/font][font=宋体][size=11pt]、[/size][/font][font=宋体][size=11pt]弓高弦长法等,这些方法的精度[/size][/font][font=宋体][size=11pt]、[/size][/font][font=宋体][size=11pt]量程[/size][/font][font=宋体][size=11pt]、[/size][/font][font=宋体][size=11pt]特点和应用场合不同。圆弧样板法仅用于检验圆弧半径是否在公差带范围内;卡尺法适用于精度不高的场合,测量范围受弧长的限制,卡尺量程受横向定位架的限制;而弓高弦长法的操作比较繁琐。上述方法一般只用于对工件做静态的离线测量。[/size][/font][size=11pt][/size]
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[b][size=11pt][font=Calibri]2[/font][/size][/b][b][font=宋体][size=11pt].[/size][/font][/b][b][size=11pt][font=Calibri]CMM[/font][/size][/b][b][font=宋体][size=11pt]测量大半径短圆弧的误差原因分析[/size][/font][/b][b][size=11pt][/size][/b]
[font=宋体][size=11pt]从测量原理上讲,[/size][/font][size=11pt][font=Calibri]CMM[/font][/size][font=宋体][size=11pt]直接测得的是被测工件上一些特征点的坐标位置,为了获得被测参数值,需要通过测量软件的数据处理和运算。因此,被测参数的测量精度主要与[/size][/font][size=11pt][font=Calibri]CMM[/font][/size][font=宋体][size=11pt]的系统误差[/size][/font][font=宋体][size=11pt]、测头系统误差、工件形状误差、算法误差、环境误差、采样策略和敏感系数等因素有关。而对于[/size][/font][font=宋体][size=11pt]大半径[/size][/font][font=宋体][size=11pt]短圆弧测量,采样策略和敏感系数对精度的影响更大。[/size][/font]