[align=left][b][size=11pt][font=Calibri][[/font][/size][/b][b][font=宋体][size=11pt]摘要[/size][/font][/b][b][size=11pt][font=Calibri]] [/font][/size][/b][font=宋体][size=11pt]短圆弧（一般为[/size][/font][size=11pt][font=Calibri]30[/font][/size][font=宋体][size=11pt]º[/size][/font][font=宋体][size=11pt]以下圆心角所对应的圆弧）的测量一直是精密测量中的一道难题，主要原因是弧长越短，采样范围过小，造成采样信息量明显减少，而且测量长度越短，信息量的损失越大，测量误差放大倍数越大，所以测量的重复性也就越差。短圆弧测量的难点在于圆弧上的特征点数少，受到的噪声大。[/size][/font][size=11pt][/size][/align] [b][size=11pt][font=Calibri][/font][/size][/b] [b][size=11pt][font=Calibri][[/font][/size][/b][b][font=宋体][size=11pt]关键词[/size][/font][/b][b][size=11pt][font=Calibri]] [/font][/size][/b][font=宋体][size=11pt]误差分析[/size][/font][size=11pt][font=Calibri] [/font][/size][font=宋体][size=11pt]敏感系数[/size][/font][size=11pt][font=Calibri] [/font][/size][font=宋体][size=11pt]短圆弧测量改进[/size][/font][b][size=11pt][/size][/b]

[b][size=11pt][font=Calibri]1[/font][/size][/b][b][font=宋体][size=11pt]．前言[/size][/font][/b][b][size=11pt][/size][/b] [font=宋体][size=11pt]短圆弧的测量在实际测量中有许多应用，如测量样板[/size][/font][font=宋体][size=11pt]、[/size][/font][font=宋体][size=11pt]异形零件等。常用的非完整圆弧半径测量方法包括圆弧样板法[/size][/font][font=宋体][size=11pt]、[/size][/font][font=宋体][size=11pt]卡尺法[/size][/font][font=宋体][size=11pt]、[/size][/font][font=宋体][size=11pt]弓高弦长法等，这些方法的精度[/size][/font][font=宋体][size=11pt]、[/size][/font][font=宋体][size=11pt]量程[/size][/font][font=宋体][size=11pt]、[/size][/font][font=宋体][size=11pt]特点和应用场合不同。圆弧样板法仅用于检验圆弧半径是否在公差带范围内；卡尺法适用于精度不高的场合，测量范围受弧长的限制，卡尺量程受横向定位架的限制；而弓高弦长法的操作比较繁琐。上述方法一般只用于对工件做静态的离线测量。[/size][/font][size=11pt][/size] [size=11pt][font=Calibri][/font][/size] [b][size=11pt][font=Calibri]2[/font][/size][/b][b][font=宋体][size=11pt]．[/size][/font][/b][b][size=11pt][font=Calibri]CMM[/font][/size][/b][b][font=宋体][size=11pt]测量大半径短圆弧的误差原因分析[/size][/font][/b][b][size=11pt][/size][/b] [font=宋体][size=11pt]从测量原理上讲，[/size][/font][size=11pt][font=Calibri]CMM[/font][/size][font=宋体][size=11pt]直接测得的是被测工件上一些特征点的坐标位置，为了获得被测参数值，需要通过测量软件的数据处理和运算。因此，被测参数的测量精度主要与[/size][/font][size=11pt][font=Calibri]CMM[/font][/size][font=宋体][size=11pt]的系统误差[/size][/font][font=宋体][size=11pt]、测头系统误差、工件形状误差、算法误差、环境误差、采样策略和敏感系数等因素有关。而对于[/size][/font][font=宋体][size=11pt]大半径[/size][/font][font=宋体][size=11pt]短圆弧测量，采样策略和敏感系数对精度的影响更大。[/size][/font]

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顶!!!!!!!!!!!!!!!!! 敏感系数公式没有啊 在有还没有图啊 看着不太方便啊 若三点测圆时，三点相对于Y轴对称分布，两点间中心角为θ，那么半径对测点的径向敏感系数δ1（如图3所示）由下述公式决定， 圆心X坐标对测点径向位置的敏感系数δ2（如图4所示）为 圆心Y坐标对测点径向位置的敏感系数δ3（如图5所示）为

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好帖子 实在太好了

早了，看一下

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