[size=5]本人在 测量块 时，遇到一些问题，希望大家为我解答[/size]： [size=4]1、使用经检定的在有效期内，有“实际”长度值的三等量块。[/size] [size=4] 2、使用支架工具，使量块在非受力的状态下固定牢固（在AD点）。[/size] [size=4] 3、选择合适的测针和测座的角度，避免测杆与量块或支架干涉。（量块支架上共四块量块）[/size] [size=4] 4、在量块的宽的非工作面上测四个点的平面建立坐标系的第一轴，在窄非工作平面上测量两点线做坐标系的第二轴，在量块的一个工 作面上测一点，为坐标系零点。[/size] [size=4] 5、编程，重新测量以上各位置和元素，自动重新建立坐标系后，在量块的两个工作面的中间位置各测一点，投影到与量块长度方向相同的坐标轴上，计算两点距离。[/size] [size=4][/size] [size=4] 问题出现了：1.建坐标时，可否以窄面 测面建第一轴，宽面 测线建第二轴？[/size] [size=4] 2.测量工作面时可否测一点一面 或两个平面 来算距离？或只测两点不投影，修改其 实测坐标值，使其在工件坐标系下，量块的两个工作面上对称测量两点求距离？这些方法有无区别，为什么！？[/size] [size=4] 3.测量时四块量块并排固定排列，可否以其中一个量块作为基准建立坐标，编程自动测量其他量块工作面？有无影响，为什么！[/size] [size=4] 4.测量时由于量块倾斜放置，CLP 及PRB 相对于平面并非垂直，矢量补偿对测量是否有影响？[/size] [size=4] 5.若在量块工作面上只测两点不投影算距离，空间探测误差对测量影响大么？[/size] [size=4] 本人水平有限，工作中确实遇到这些问题，请朋友们帮忙解答！ 先谢谢大家了！[/size] [size=4] [/size]

楼主是有心人啊，把一个问题复杂化去想，这种思考方式值得学习。

呵呵，多测几遍，就清楚了。

我也不想复杂化，领导让用这几种方式都测一下，不得不考虑啊！