我的设备只能用扫描轮廓度点测量，每次用到设定点STA，DIR，STO等，然后，用GENAXI的命令，生成理论点，最后，进行比较，我想问此方法测量是否科学，还有那些设定的各测量点是什么意义啊！谢谢 涂益坚

为何不生成理论点,最佳配合,再计算偏差. 由于扫描误差大于单点误差,所以如果知道名义轮廓,并且名义轮廓较小,精度要求高,这时可以采用定义二维曲线段而不用扫描模式,再BFITPT,ACNO2D. 应该说扫描是求轮廓度最好的办法. 要完成一段曲线的扫描,必须定义扫描平面,扫描路径,扫描参数 SDA: 扫描数据点,该点必须指明探针受力方向,例如PLA型则所有的力在一个平面里,如果CYL型则所有的力的方向在一个圆柱面里.如上图. STA: 1,需要注意的两点,扫描精度:指的是扫描路径轨迹误差必须小于某个值,例如在图1PLA型扫描里,点的Z坐标变化之差必须小于某个值 2,如果为闭曲线,而且测力在XY面里,则最后一个参数输入Y DIR: 方向点 STO: 停止点,例如图1,假设要扫描STA-STO1,则可以将STO设置为PLA型,平面为CSY.$YZ,通过次数(Break time)设为1, 如果要扫描STA-STO3,则break times必须设置为2. 也可以设置为PNT,但是如果捕捉范围太小,则测量机并不停止,事实上如果扫描精度不高的测量机这种情况会经常发生的(捕不到停止点),所以为了保险,将停止点类型设置为PLA是最保险的. 给你出个个问题,在XY面里从点(10,10)到(100,100)扫描一条直线,然后算出直线度,并绘图