最近看了一位同行测零件,又看到了一个新的问题,提出来让大家讨论一下. 这位同行的测量过程是这样的： 由于被测零件是一个复杂箱体,上下两面平行,四周基本上是斜面,有两个面都有待测的元素,这位同行便首先由斜面开始测,建立坐标系,然后评价这个斜面上的元素的形位公差,之后,再换到另一个斜面,重新建立了一个坐标系(这个是坐标系是新建还是迭代或是最佳拟和我倒是不太清楚,只看到测量过程,未见到源程序),然后再把要测的元素测一遍,并尺寸评价.最后再按图纸基准新建坐标系,然后在此基础上测定要测的基准及待测元素,并对之前所测元素（包括未新建这个坐标系之前所测其它测量元素）与基准的形位公差进行评价. 我的问题是，大家在测量一些较复杂的零件时，粗建坐标系及精建坐标系时是用哪个做基准的呢？在测量过程中有很多待测的形位公差，是不是每评价一个形位公差就要换一个坐标系呢？这样做好吗？？？人家是老师傅了，总不至于是乱来的吧？？可是，我咋觉得，他的做法与我们在青岛学的做法有不同呢？很疑惑~~~~~ ~~~~~ ~~~~~ 迷惑万分，静候答复。