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三坐标测量粗超度要求

2013-06-22 14:32 33 0 7

各位好：在测量键槽位置度时，建立坐标如下：外圆柱找正、键槽底面旋转、测量键槽两面，构造中位面，评价位置度。（键槽面粗糙度估计在Ra6.3~Ra12.5之间）测量结果和传统的假键法（180°翻转塞键测量)误差较大，请教这样存在的误差主要由何引起，为避免这样的误差有什么方法能够做到，请大家指正。

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