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求教！！！！！急

2010-08-20 09:11 34 0 14

[attachimg]1107[/attachimg] 谁能帮我说说4°怎么评价好啊！我用的是键槽中分面进行评价，测出的角度和用两键槽面评价的结果不一样，再一个对称度应该怎么评价好。。

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这个电磁干扰是不是也分机器啊？

2010-08-23 20:48

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呵呵，幡然醒悟啊，我本来就知道要构造中分面的，现在一想那是错的，如果单纯的构造中分面的话，那怎么评价都是对衬的啊，这个面必须要过Y基准才行，谢谢提醒啊。。。。。:D

2010-08-23 20:47

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在说明中是提到，不能有电磁干扰

2010-08-23 17:28

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我的明白！谢谢！我想问下固定零件能不能用带磁性的固定，对坐标机有无干扰！

2010-08-23 15:52

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是的，不能单单以Y轴做基准，应该以通过Y轴且与被测要素中面平行的这个面为基准。就是我前面讲的方法。提醒一下，你之前仅用中分面做基准的方法是错的。图面标的Y基准，你就应该以此为基准测。

2010-08-21 21:58

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在第二个图中测量以Y轴线作为对称度基准来对点集合进行评价时，结果超差可大，像这种情况是不是不能以线作为基准来评价点集合的对称度，而要通过Y轴线构造一个面，以这个面做为基准呢？

2010-08-21 09:55

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第一个图不知道工件的厚度。先按平板类的工件测好了 1、以大平面建第一轴（设为Z轴，并归Z轴零点） 2、以两个孔的连线建X轴 3、以间键槽上分别打两个面（若工件较薄可分别打两条线），并构造一中点。 4、评价左边孔中心与键槽中点的连线相对于X轴的夹角（也就是标注4°评价结果）第二个图 1、以Y基准圆柱建第一轴（设为Z轴，并归X、Y轴零点) 2、测X基准的所在的两个面，并这两个面构造一中面，然后将这个中面的法线方向建成X轴。 3、如果用特征组评价对称度的话，可以构造一个垂直于X轴的基准面，然后再按正常评价对称度的方法在被测要素的左右采点并构造成特征组然后再评价这个特征组相对于这个基准面的对称度即可。

2010-08-20 21:52

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我第二个图形就是用构造集合的方法测量的，但在选用中分面为基准时，测的合格，用轴线做基准时，测的超差很大！是不是用轴线做基准时，不能用点集合来测量对称度。

2010-08-20 14:57

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再申明一下,对称度的求法!你们都忘了,槽的对称度评价之前,是在槽左一点,右一点.一共测五点.构造一个集合.才来评价对称.你们培训时没有认真听呀!!对于槽的检测.如果是CAD++版本,可以直接测量槽的功能.不是这个版本,只有用构造集合方式来.

2010-08-20 13:54

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中分面不是和两键槽面平行的吗！测出的值应该很接近！我测的时候误差比较大！不知道该信哪个结果了

2010-08-20 11:56

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