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请教各位大侠
2009-07-23 10:59 38 0 7
用手动测完外圆,再自动走这个圆,在测完一点圆弧移动时测针向下移动0.5-1.0mm再测下一点,这是咋回事呀,怎么解决喽!谢谢各位了。 矢量0,0,1 工作平面 Z+ [attachimg]554[/attachimg]
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请教楼上说的: 手动采样的特征均布处理后,本来采样点是3层的,均布后都变成2层了,请教怎样保持仍然是采3层点,谢谢!
2009-08-04 21:59
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lnsyzzy说的对. 除非你是物理找正建立的坐标系,你手动采点不可能与数学找正的零件坐标系投影平面平行,所以,这种现象非常正常,反之道有些偶然. 解决的方法很简单:只要将手动采样的特征再进行一下均布处理,程序就自动变成在一个投影平面上采样了.
2009-07-24 13:25
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王惠雅
可能是螺距测量或设安全平面了
2009-07-24 11:16
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看看你是否设置螺距了。
2009-07-24 10:13
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看看你那个圆的触测点的Z 值
2009-07-23 21:12
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为什么不用自动测量特征呢??打圆之前最好是打个样例点
2009-07-23 11:54
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用手动测完外圆,再自动走这个圆,在测完一点圆弧移动时测针向下移动0.5-1.0mm再测下一点,这是咋回事呀,怎么解决喽!谢谢各位了。 矢量0,0,1 工作平面 Z+ [attachimg]554[/attachimg]
2009-07-23 10:59
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