社区活动 技术论坛 请教工件的平面度评价原理!!!
请教工件的平面度评价原理!!!
2009-01-02 21:16 47 0 13
在实际的检测的过程中,我们测量一块平板的平面度的时候,要评价平面度最少要采4个点(以面作为测量基准要考虑平面度的),而在一块平板上,采点数量越多可以消除工件的形状对位置尺寸的影响,那么在PC-DMIS软件中,是怎样计算平面度的呢?是以最先采的3个点确定一个平面,然后采点所拟合的面和那个面比较确定平面度的,是吗?如果是这样,那么前3个点应该在工件上怎样去测比较好呢?也就是说,保证测量结果的复现性最好.才没有导致失去测量的意义了.望有识之士帮我分析一下,谢谢.期待各位的回答,
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在实际的检测的过程中,我们测量一块平板的平面度的时候,要评价平面度最少要采4个点(以面作为测量基准要考虑平面度的),而在一块平板上,采点数量越多可以消除工件的形状对位置尺寸的影响,那么在PC-DMIS软件中,是怎样计算平面度的呢?是以最先采的3个点确定一个平面,然后采点所拟合的面和那个面比较确定平面度的,是吗?如果是这样,那么前3个点应该在工件上怎样去测比较好呢?也就是说,保证测量结果的复现性最好.才没有导致失去测量的意义了.望有识之士帮我分析一下,谢谢.期待各位的回答,
2009-01-02 21:16
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应该不会有软件把前三点来确定基准平面. 我猜测PCDMIS应该是全部的测量点用最小二乘拟合一个平面,然后整体做半径补偿. 平面度计算就算平面两端最大两个距离之和.
2009-01-04 10:59
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PC-DIMS是对所有的进行最小二乘法评价的,前三点可以任意采集。
2009-01-04 11:13
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那么在采点的时候,采点的位置不同,为何所得的结果也是不一样的。
2009-01-04 20:51
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形状公差的偏差结果都是用测量点来计算,所用测量点不同,计算结果 有偏差很正常. 偏差大小仅与工件表面情况&机器重复精度有关.
2009-01-05 12:35
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除非你能保证你两次采的所有点都一样,否则平面度不可能完全一样
2009-01-05 13:53
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三坐标测量的平面度通常会比打表的偏小.
2009-01-05 20:36
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"三坐标测量的平面度通常会比打表的偏小. " 这是因为,测量软件已经按最小条件进行数据处理了.而打表通常是看表头指针相对物理找平坐标系的最大最小值. 所以,只有两者都满足了最小条件后才可进行比对.
2009-01-05 21:15
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那么如何测量一个工件的平面度是最合理的呢?
2009-01-06 20:24
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景松刚
测于采的这个问题,\] 最好是采的间隔一样,采点的数量越多越接近真实情况.
2009-01-06 21:21
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