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求教:扫瞄的轮廓如何与理论曲线拟合?

2004-11-25 22:16 36 0 8

请看下图:

用闭合扫瞄的方法测量出来工件的实际轮廓,然后导入设计图的igs理论曲线,(图中的两条线是其公差带),但是二者没办法保持位置和方向的一致(因为工件是任意放置的),请问,在pcdmis环境下,如何平移和旋转坐标系,可以使实际轮廓进入理论公差带,并使其各点的偏差达到最小? 谢谢!

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