PC-DMIS 2021.1软件下载 - 技术论坛

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PC-DMIS 2021.1软件下载

2022-11-01 13:18 2598 0 0

PC-DMIS 2021.1安装包下载：

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PC-DMIS 2022.1 主要新增功能

·几何公差-新评价方法支持 New ASME and ISO standards

1. 新的评价方法

·支持ASME Y14.5-2018 / ASME Y14.5.1-2019

·支持尺寸-非关联包容体尺寸（UAME）和局部尺寸

·支持基准的数学计算选项（ASME Y14.5默认的算法或最小二乘法）

· 支持特征的数学计算选项（ASME Y14.5默认的算法或最小二乘法）

· 支持基准和被测要素的报告尺寸选项

· 支持自定义基准约束的自由度u，v，w，x，y，z

· 支持平移修饰符▷、方向公差的切平面修饰符T圈

· 支持动态轮廓度修饰符△和不对称轮廓度符号U圈、轮廓度公差单个实测值

· 支持ISO 14405-1-2016、ISO 1101-2017

· 支持线性尺寸规范修饰符（ISO14405-1）

· 支持全局尺寸和局部尺寸（ISO14405-1）

· 支持基准特征的新数学计算选项（ISO 5459默认算法，约束L2法或最小二乘法）

· 支持自定义基准约束的自由度u，v，w，x，y，z

· 支持轮廓度不对称公差带符号UZ和偏置公差带符号OZ

2. 新几何公差命令全面取代FCF/XactMeasure命令。有以下新特性：

·在编辑窗口中显示实测值，方便操作者直观查看测量结果。

·增加了基准和被测特征的计算方式

-ASME Y14.5 -2018基准在RMB时根据Y14.5.1 -2019计算方法默认的是约束的最小二乘法

-ISO 1101: 2017 基准根据ISO 5459法使用的计算方法默认的是约束的最小区域方法

3. 增强了基准定义的功能；

· 增加公共基准的定义

· 增加了要素组做基准的定义

4. 扩展了复合位置度和复合轮廓度的特征控制框，最多支持5行复合特征控制框，显著改善评价易用性

5. 所有的几何公差（除轮廓度和平面度外）支持评价两种尺寸特性：包容尺寸和局部尺寸

6. 轮廓度计算更新

·几何公差廓度评价遵循ASME Y14.5 – 2018和ISO 1101: 2017

· 支持动态轮廓度（遵循ASME Y14.5 – 2018和Y14.5.1 - 2019）

· 支持UZ和OZ修饰符号（遵循ISO 1101-2017）

7. 轮廓度新符号

· ASME 动态轮廓度符号△和不对称轮廓度符号U圈

·ISO新符号不对称公差带符号UZ和偏置公差带符OZ

8. 圆柱度评价

·评价算法增强支持直接评价圆柱体的圆度，以前必须分别测量圆进行评价；

· 自动对每个横截面进行评估，并报告最差横截面的圆度。

9. 新增切平面T圈符号

·方向公差的倾斜度、平行度、垂直度支持切平面修饰符T圈符号

10.同时性评价

· 支持位置度和轮廓度的同时性评价

· 同时性评价对话框在选择第一个评价后，自动过滤同类项（相同基准顺序与实体条件要求的尺寸）简化操作难度。

·3D PDF 报告

3D PDF报告允许用户以图形方式与报告交互，它将三维分析视图存放于报告中，用户可以在报告中旋转和缩放零件图像，查看所需信息自动合并所有分析图形，无需打印多页

·MBD 技术-三维数模辅助测量

利用OCR图像文字识别技术，PC-DMIS能够自动识别2维图纸上的标注及尺寸，并将这些标注和尺寸智能转换成为测量程序。 GD&T捕获包括GD&T选择模式（来自CAD）、GD&T选择模式（来自捕获）、GD&T选择模式（来自文件）三种模式。

• 来自捕获的文档要求：

1.OCR 检测最适用于至少 300 DPI。分辨率越低，结果就越不准确。

2.打开图像并将其放在 PC-DMIS 旁边。为获得最佳效果，请使用单独的显示器。

3. 在电子文件或绘图上，放大到足够近。如果文本的缩放级别不高，则 OCR 检测可能会产生不太准确的结果。

4. 导入所需的 GD&T 公差后，请检查 PC-DMIS 生成的 FCF 命令并进行所需的更正。

• 比之前的版本新增功能：

1. 添加了气球式便笺识别

2. 增加了正负尺寸识别

3. 标题栏图形单位的识别

4. 标题栏、默认公差的识别

·测头安全自动校验

计算并检查测头是否与机器结构（台面、支撑腿、悬臂等）发生碰撞；并根据碰撞检查，自动添加所需的移动点，保证整个校验的过程安全有效。此功能在校准的时候自动进行碰撞检查，当软件判断测头会发生碰撞时，会自动中断程序。

· 优化路径算法

· 支持水平悬臂机器

·概要模式升级

• 增加便捷化操作按钮

1.手动／自动测量模式一键切换

2.快速隐藏特征及标签，适用于单个特征、多个特征和组

• 直观、可视化显示

1.直观显示尺寸是否合格

绿色：合格红色：超差

2.箭头便于识别正在执行的命令

3.标记／清除标记以灰度显示区分

·升级阵列粘贴模式

• 增加以旋转中心阵列粘贴

1. 创建被阵列特征

2. 使用鼠标左键快捷拾取CAD上的旋转中心，或输入旋转中心数值

3. 粘贴时，将围绕旋转中心阵列其他特征

• 增加按用户定义曲线阵列特征的功能

1. 可以使用CTRL+鼠标选择多段曲线，也可删除曲线

2. 曲线需要连续

3. 按照设定间距，等间距阵列特征

·Inspect 扫码测量

• 可对测量程序设置与条形码关联，实现扫描后自动调用对应测量程序。与操作员手动选择程序和报告相比，速度更快且不易出错。

• 关联时可对条形码设置部分屏蔽，将条形码代表工件序列号部分屏蔽。

• 可从条形码中提取跟踪信息，并作为变量输入测量例程。

·Protect-合规的程序认证和保护

三级成员操作划分优化

• 操作人员：

1. 仅可执行已验证测量程序，不可进行修改。

• 程序编辑人员

1. 具备新建测量程序、执行程序等完整PC-DMIS功能。

2. 可对已验证测量程序进行更新修改。

3. 不可对程序进行验证，需提交至程序审核人员验证。

• 程序审核人员

1. 具备新建测量程序、执行程序等完整PC-DMIS功能。

2. 可对程序编辑者提交的测量程序进行验证。

3. 不可对非本账号创建的验证程序进行修改。

• 程序编辑人员可将对已验证程序的增删修改保存在已验证程序中，操作人员打开后仅可看到并执行增删修改前的已验证程序内容。

• 程序审核人员对由程序编辑人员进行的程序增删修改批准验证后，操作人员可执行最新验证的程序，如果不批准验证，可选择是否一键恢复修改内容。

·点云选择

• 使用“点云选择”功能时，增加了图形化操作方法，可使用鼠标便捷选择或拖动，更改边界形状、选择区域位置和选择区域中心及深度

1. 选中的点云高亮突出显示，便于操作人员查看

2. 单击并拖动边界点以更改形状

3. 单击并拖动中间点以移动选择区域

4. 单击并拖动中心端点以定义深度范围

·点云 / 网格选择

• 在“点云选择”和“网格选择” 中增加了“正面”复选框。

1. 如果只想在选择视图中选择正面的点，可以启用此复选框。

2. 禁用此复选框时，将选择前视图和后视图中的点。

3. 对选取内部点云/网格特征有显著优化

·点云色差图

·点云色差图跟随光标实时显示

1.当测量程序中存在多个色差图，移动光标位置即可实时显示当前色差图及其颜色、标签设置，无需用户从色差图组合框中手动选择希望显示的色差图。

·增加非线性颜色比例

1. 在点云色差图的“色阶编辑器”中，增加使用非线性比例选项。

2. 通过定义分区数量及每个区域的公差值，启用非线性比例，可使色差分布比例在图形窗口或报告中更具可读性，帮助用户更容易的判断产品误差分布。

·激光变速扫描

• 对于大型零件如飞机和汽车，可减少扫描时间，扫描灵活性大大增强。支持HP-L激光测头。

• 对于开线扫描、曲面扫描和周边扫描，可以在理论扫描点处设置不同扫描速度。激光测头扫描时越过该点后以设定速度扫描。

• 有助于节省扫描时间

1. 对需要提取特征的区域，可以降低扫描速度，收集更多点；

2. 对不需要提取特征的区域，可以提高扫描速度，收集较少的点。

·二维激光特征提取优化

• 对于内部有扫描数据的二维特征，提取时增加从内部定义剪裁区域的功能。

1. 无需用户手动操作去除二维特征内的数据

2. 对于距离较小的同心圆，可快捷设置剪切参数，易于操作

3. 内部裁剪功能直接在特征中应用，不会增加测量程序命令

• 在提取二维激光特征时，用户可以直接选择所需的投影平面；

• 编程时间缩短，无需用户先创建投影面，再通过构造获得特征；

• 精度提升，以前版本中，投影平面只能从被测量特征旁的矩形区域中提取，现在则是从特征周围定义的整个环形带区域中提取。

·激光扫描配置文件

• 用户可在激光数据采集设置对话框中，定义激光扫描配置文件，并可将配置文件插入到测量程序中。

1. 支持配置多个激光扫描文件

2. 可在程序中十分便捷的选用不同激光扫描文件，软件将自动调用该配置，无需手动切换

• 对于希望重新运行测量程序，并以一致方式扫描数据的激光用户十分有帮助

·其他激光点云功能提升

• 增加网格选择和重置命令。

• 构造点中增加“提取边界点”，可以从点云中提取棱边点，支持复制/粘贴和复制/阵列粘贴。

• 新构造的提取边缘点扩展了自动激光边缘点的能力。

·HP-TMe & HP-THDe 触发传感器

• HP-TMe触发传感器

1. 新测头无裙边，降低了异常碰撞损坏测头的风险

2. 新测头优化了结构设计，增加了模块寿命

3. HP-TMe可以与TP20传感器及模块相兼容，实现互换使用

• HP-THDe触发传感器

1. 光学感应机械设计提高了测量的重复性，和精确的3D形状测量

2. 结实的结构设计，防损性更佳

·HP-OW 非接触传感器

• HP-OW非接触传感器基于光谱共焦技术，不受产品表面颜色、材质、反射率、透明度影响，可用于微小曲面的形貌测量，可测量透明、反光、漫反射表面产品，也可测量玻璃、透镜的厚度。

1. 光纤集成在测头中，测头可自由移动

2. 螺旋式扫描校验，校验时间大大缩短

3. 多个产品型号，增加可选性

4. 配置自动更换架，可与扫描测头、触发测头自动切换

·Profiler R 粗糙度扫描传感器

• PC-DMIS第一次引进粗糙度测量并支持粗糙度传感器，拓宽了CMM 应用领域。使得用户能够在CMM上同时检测粗糙度和几何量尺寸。

1. PC-DMIS界面简洁友好，用户只需一键即可创建粗糙度扫描命令

2. 粗糙度评价命令提供粗糙度轮廓、波纹轮廓和主轮廓评价，提供轮廓绘制，并出具或到处SVG格式的一页绘制报告

3. 粗糙度结果可以导出到Q-DAS软件进行数据分析

4. PC-DMIS支持4个不同配置的传感器，水平传感器可配置转台

5. PC-DMIS支持由Breitmeier Messtechnik公司制造的无滑动粗糙度传感器，该传感器可安装在两轴无极旋转手腕上。

·Travel Rack 更换架

• Travel Rack更换架安装在三坐标测量机主腿位置，并随导轨一起移动。

1. 更换架不占用测量空间

2. 测头距离更换架更近，更换时间短，效率高

3. 多种尺寸更换架可完美匹配多种机型

·ATS600 激光跟踪仪

• ATS600激光跟踪仪新增线扫描功能。

1. 可以从菜单栏中插入线扫描（插入->扫描->线扫描），或者从跟踪仪测量工具栏中点击线扫描按钮。

2. 线扫描使用了曲面探测来扫描直线与交叉线，测点数据以点云形式存储，点云的扫描参数在全景相机中设置。

3. 如果已经与CAD模型做好了对齐，可以直接在CAD模型上定义线扫描路径。

• 线扫描有两种模式：

1. 交叉线扫描：此模式驱动ATS600光束以“之字形”路线收集点云。此方法可以非常有效的使用点云进行横截面分析。

2. 直线扫描：该模式适应于测量边缘或者直线。如果激光跟踪仪正对于测量对象且只需要测量直线，就可以在全景相机中画出扫描线并设置扫描线宽。光束会按照最快的路径扫描规划好的路径点（会有圆弧过度），而不是精确地沿着设定好的路线移动。如果希望精确地沿着每条规划的线测量，需将先线宽设置为最小值（0.5mm)。